Differenza tra AFM e STM Differenza tra
AFM si riferisce al microscopio a forza atomica e STM si riferisce al microscopio a tunnel di scansione. Lo sviluppo di questi due microscopi è considerato una rivoluzione nei campi atomici e molecolari.
Quando si parla di AFM, acquisisce immagini precise spostando una punta di dimensioni nanometriche attraverso la superficie dell'immagine. L'STM cattura le immagini utilizzando il tunneling quantico.
Dei due microscopi, il microscopio a scansione a tunnel fu il primo a essere sviluppato.
A differenza dell'STM, la sonda crea un contatto diretto con la superficie o calcola l'incipiente legame chimico nell'AFM. Le immagini STM indirettamente calcolando il tunnel di grado quantico tra la sonda e il campione.
Un'altra differenza che si può osservare è che la punta in AFM tocca la superficie tocca delicatamente la superficie mentre in STM la punta è mantenuta a breve distanza dalla superficie.
Diversamente dall'STM, l'AFM non misura la corrente di tunneling ma misura solo la piccola forza tra la superficie e la punta.
Si è anche visto che la risoluzione AFM è migliore rispetto all'STM. Questo è il motivo per cui l'AFM è ampiamente utilizzato nella nanotecnologia. Quando si parla della dipendenza tra forza e distanza, l'AFM è più complessa dell'STM.
Quando il microscopio a scansione a tunnel è normalmente applicabile ai conduttori, il microscopio a forza atomica è applicabile a conduttori e isolanti. L'AFM si adatta bene agli ambienti liquidi e gassosi, mentre STM funziona solo in alto vuoto.
Rispetto allo STM, l'AFM offre una maggiore misurazione dell'altezza diretta del contrasto topografico e migliori caratteristiche della superficie.
Sommario
1. AFM acquisisce immagini precise spostando una punta di dimensioni nanometriche sulla superficie dell'immagine. L'STM cattura le immagini utilizzando il tunneling quantico.
2. La sonda crea un contatto diretto con la superficie o calcola l'incipiente legame chimico in AFM. Le immagini STM indirettamente calcolando il tunnel di grado quantico tra la sonda e il campione.
3. La punta in AFM tocca la superficie tocca delicatamente la superficie mentre in STM la punta è mantenuta a breve distanza dalla superficie.
4. La risoluzione AFM è migliore rispetto all'STM. Questo è il motivo per cui l'AFM è ampiamente utilizzato nella nanotecnologia.
5. Quando il microscopio a scansione a tunnel è normalmente applicabile ai conduttori, il microscopio a forza atomica è applicabile a conduttori e isolanti.
6. L'AFM si adatta bene agli ambienti liquidi e gassosi, mentre STM funziona solo in alto vuoto.
7. Dei due microscopi, il microscopio a scansione a tunnel fu il primo a essere sviluppato.
